當(dāng)前位置：首頁 > 技術(shù)文章
主動隔震臺作為高精度實(shí)驗(yàn)設(shè)備的“穩(wěn)定基石”，通過主動反饋控制技術(shù)，可實(shí)時抵消環(huán)境振動對精密儀器的影響，廣泛應(yīng)用于激光共聚焦顯微鏡、掃描電鏡及原子力顯微鏡等領(lǐng)域。其核心功能涵蓋低頻振動抑制、六自由度主動控制、環(huán)境適應(yīng)性設(shè)計(jì)及智能監(jiān)測四大維度，...
微納米尺度探針在高精度薄膜電阻測試中發(fā)揮著重要的作用。這種方法可以提供更準(zhǔn)確和可靠的測量結(jié)果，為材料科學(xué)、電子器件制造等領(lǐng)域的研究和應(yīng)用提供有價值的數(shù)據(jù)。傳統(tǒng)的薄膜電阻測試方法通常使用宏觀尺寸的探針或接觸頭進(jìn)行測量，但這種方法存在一些局限性。例如，在微米甚至納米級別上進(jìn)行精確測量時，無法避免與被測樣品之間發(fā)生非破壞性接觸，并且可能會受到外界因素（如表面粗糙度）影響。因此，利用微納米尺度探針來進(jìn)行高精度薄膜電阻測試成為了一種新型解決方案。微納米尺度探針是由特殊材料制成并具有極細(xì)...
1.概述由于光刻的延遲和功率限制的綜合影響，制造商無法水平縮放，因此制造商正在垂直堆疊芯片設(shè)備，含三維集成技術(shù)。由于移動設(shè)備的激增推動了對更小電路尺寸的需求，這已變得至關(guān)重要，但這種轉(zhuǎn)變并不總是那么簡單。三維集成方案可以采用多種形式，具體取決于所需的互連密度。圖像傳感器和高密度存儲器可能需要將一個芯片直接堆疊在另一個芯片上，并通過硅通孔連接，而系統(tǒng)級封裝設(shè)計(jì)可能會將多個傳感器及其控制邏輯放在一個重新分配層上。2.業(yè)內(nèi)行情EVGroup業(yè)務(wù)發(fā)展總監(jiān)ThomasUhrmann認(rèn)為...
為了制備高精度的薄膜電阻測試儀，并對其性能進(jìn)行評估，可以按照以下步驟進(jìn)行研究：1.設(shè)計(jì)和制備：首先，根據(jù)需求和目標(biāo)設(shè)計(jì)并確定電阻測試儀的結(jié)構(gòu)、尺寸和材料。然后，利用相應(yīng)的加工方法（如機(jī)械加工、3D打印等）制造出所需組件或零部件。注意，在設(shè)計(jì)過程中要考慮到機(jī)械剛性、穩(wěn)定性以及與被測樣品接觸時的非破壞性。2.裝配和調(diào)試：將各個組件或零部件裝配在一起，并進(jìn)行必要的調(diào)試。確保所有組件之間有良好的連接，并能夠正常運(yùn)行。3.性能評估方法選擇：選擇適當(dāng)?shù)姆椒▉碓u估薄膜電阻測試儀的性能。以下...
隨著柔性電子學(xué)領(lǐng)域的快速發(fā)展，對柔性有機(jī)半導(dǎo)體材料進(jìn)行準(zhǔn)確地電阻測試成為一個關(guān)鍵問題。傳統(tǒng)聯(lián)系式接觸方式往往會對材料產(chǎn)生損傷或干擾，而且無法對特定區(qū)域進(jìn)行準(zhǔn)確測量。因此，開發(fā)一種非破壞性、高精度的薄膜電阻測試儀具有重要意義。設(shè)計(jì)原理：本文提出了一種基于納米壓痕技術(shù)實(shí)現(xiàn)高精度電阻測試的方法。首先，在設(shè)計(jì)中考慮到納米級位移測量系統(tǒng)的需求，采用了高精度壓頭和位移傳感器。其次，在測試過程中，通過控制壓頭與樣品之間的接觸力，使得薄膜與導(dǎo)電底座緊密貼合，并保持穩(wěn)定的電阻值。最后，利用位移...
隨著科技的發(fā)展，對材料力學(xué)性能進(jìn)行準(zhǔn)確、可靠的表征變得越來越重要。而納米壓痕儀作為一種先進(jìn)的測試儀器，在材料力學(xué)性能表征領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。本文將探討它在這方面所具有的突出優(yōu)勢以及其應(yīng)用案例。納米硬度測試：通過使用納米壓痕儀進(jìn)行硬度測試，可以快速、準(zhǔn)確地評估材料在微觀尺度下的硬度特性。傳統(tǒng)上，硬度測試主要依賴于顯微鏡觀察和手動測量，但這種方法存在一定局限性。相比之下，本設(shè)備利用掃描探針和高精密電子浮升系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了自動化測量，并且可以實(shí)時記錄載荷-位移曲線數(shù)據(jù)。這使得我們不僅可以...